第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

■実施場所
福岡国際会議場

■発表内容
ポスター発表「NewSUBARU産業用分析ビームライン:BL05の現状」

ポスター発表「部分蛍光収量法で測定したXANESスペクトルに及ぼす試料板の表面散乱の影響」

ポスター発表「産業用分析ビームライン（BL05）を用いた液体試料のXAFS測定」